静电ESD

项目介绍：

静电放电（ESD）是集成电路（IC）行业中最重要的可靠性问题之一。通常客户客诉的三分之一到一半是由于ESD或EOS故障引起的。由于电路尺寸越来越小，新技术中ESD损坏变得越来越普遍，因此通过建模和故障分析来理解ESD故障的工作也相应增加。

什么导致电子器件ESD失效？主要原因如下：

对器件放电，例如: 从人到设备放电

从器件放电，从带电装置向静电电位较低的人体或身体放电

电场引发Field Induced Discharges，场效应，引起电流流过电路中的元件

应用优势：

芯片设计人员在复杂芯片工作状态下测量，精准找出静电薄弱电路测试部位，可测试复杂BGA芯片，自动对比IV判定PASS/NG。通过ESD测试，芯片设计人员能设计出ESD等级更高更好的IC。

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